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            EDX8800E-X熒光光譜儀

            型號(hào):

            產(chǎn)品時(shí)間:2024-08-30

            簡(jiǎn)要描述:

            EDX8800E-X熒光光譜儀規(guī)格:1.元素分析范圍:鈉-鈾(NA-鈾)抽真空2.元素含量分析范圍:1PPM~99.99%3.Z低檢出限:1PPM

            產(chǎn)品目錄

            Product catalog

            詳細(xì)介紹

            EDX8800EX熒光光譜儀規(guī)格:

            1.元素分析范圍:鈉-鈾(NA-U)抽真空

            2.元素含量分析范圍:1PPM~99.99%

            3.zui低檢出限:1PPM

            4.能量分辨率129±5ev

            5.樣品腔尺寸:520*310*120(MM)

            6.多次量測(cè)重復(fù)性(以標(biāo)準(zhǔn)樣品為準(zhǔn)):±0.05%(高含量)

                                                                    ±0.002%(微量)

             長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性(以標(biāo)準(zhǔn)樣品為準(zhǔn)):±0.05%(高含量)


                                                                    ±0.0025%(微量


            EDX8800EX熒光光譜儀應(yīng)用區(qū)域

            1.ROHS\無(wú)鹵檢測(cè)指令

              CD <100   PB<1000

              HG <1000 Cr6 <1000

              PBBS <1000

             PBDEs <1000

            2.合金分析領(lǐng)域

               銅合金 不銹鋼 AL 鍍層

            3.包裝指令檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)(94/62/EC)

               CD PB Hg Cr6 <100

            4.玩具指令檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

                EN71-3

            5 .鍍層成分分析

                鍍層厚度分析

                鍍層環(huán)保檢測(cè) 

             

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